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美国博曼台式X射线荧光(XRF)镀层测厚仪，为您提供准确、快速简便的镀层厚度测量、元素分析,以及电镀液分析。

Bowman BA-100 Optics 机型采用先进的多孔毛细管光学聚焦装置,有效缩小测量点斑点的同时,可数倍乃至数十倍提高X射线激发强度。

Bowman BA-100 Optics 机型配备大面积的SDD(硅漂移探测器),有效拓展元素分析范围,适应严格的微区、超薄镀层,以及痕量元素分析需求。

优秀的测试性能、突出的微区测量能力,Bowman BA-100 Optics机型是研究开发、质量管控的XRF镀层厚度及元素成分分析仪器。

博曼X射线膜厚测试仪主要基于核心控制软件的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统。采用全新数学计算方法,采用FP(Fundamental Parameter)、DCM (Distenco ControlledMeasurement)及强大的电脑功能来进行镀层厚度的计算,在加强的软件功能之下,简化了测量比较复杂镀层的程序,甚至可以在不需要标准片之下,一样精准测量。

只需轻轻按一下激光对焦按钮,就可自动进行对焦。对于测量有高低差的样品时,配置了为防止样品和仪器冲撞的自动停止功能。

博曼X射线膜厚测试仪,可对应于含无铅焊锡在内的合金电镀或多层电镀的测量,应用范围广泛。

利用Microsoft的Office操作系统可将检测报告工作之便简单快速地打印出来。