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美国博曼（Bowman）BA-100系列 X射线荧光镀层测厚仪适用于PCB、FPC、LED、SMT、连接器、端子、五金产品、汽车零部件、卫浴洁具、珠宝等行业的镀层厚度测量、材料分析，可测元素广泛，Ti22—U92 ，成份分析z多可达25种元素 ，z多可测4层镀层+基材层的镀层厚度 。
仪器型号：BA-100-P-MVE
采用预热时间短，长寿命的50W（50KV 1.0mA）微聚焦的W靶X射线管，开机5分钟内即可测量
X射线由上往下 ，高分辨半导体固态探测器（Si-Pin），提高稳定性和灵敏度，有效区分相邻元素的谱峰
4种规格：0、0.1、0.5、1mm一次滤波器可自由切换
配置多准直器系统 ，准直器有园形和方形，有着多种规格，标准规格：Φ0.1、Φ0.2、Φ0.3、Φ0.6mm等
光学放大30X、数字放大1--5X的高清CCD系统
拥有6.3--12.5--25.5--38mm的变焦系统，便于异形产品的测量
仅需一根USB线与电脑连接，增强信号的稳定性，有效减少故障率
紧凑式设计，改善效率和精度
模块化设计，方便维修、维护
占用空间小、轻量化设计
样品台开槽式设计适用于大型扁平产品（如：PCB）的测量
样品台程控式移动，XY轴可编程运行
X、Y轴移动行程：254×254mm
Z轴程控移动，行程132mm，镭射辅助红点聚焦系统能有效避免人为测量误差
基于Net framework框架的Xralizer软件
可采用基本参数法或经验系数法建立镀层测厚和元素分析档案程序
设置直观的图标引导用户界面
拥有快捷的面板操作按钮
设置功能强大的标准片库
强大的报告编辑生成器
拥有灵活的数据显示、数据和图像可以多种格式导出，每个测量点图片均可显示在测量报告中
工作台内部尺寸（宽×深×高）：310×380×140mm
仪器外形尺寸（宽×深×高）：560×600×280mm
重量：70Kg